Миниатюрный сканирующий туннельный микроскоп |
![]() |
attoSPHERE – компактный сканирующий туннельный микроскоп, разработанный, главным образом, для применения при комнатных температурах в тяжелых условиях (например, изменяющиеся температуры или неидеальные значения затухания). Благодаря уникальной, практически эксклюзивной комбинации материалов (инвар и керамика) и цилиндрической форме с компенсацией температуры, attoSPHERE позволяет за очень короткое время получать изображения с атомным разрешением даже в неидеальных условиях. Устройство по принципу «включил и работай» делает данную модель незаменимой для проведения топографических и спектроскопических измерений, контроля быстрых процессов, анализа отказов в наноэлектронике, проведения фундаментальных исследований и др. Микроскоп attoSPHERE совместим с условиями высокого вакуума и любыми чистыми комнатами.
Особенности:
- Возможность применения в условиях изменяющейся окружающей температуры
- Очень высокие резонансные частоты из-за очень маленьких размеров и жесткой конструкции
- Атомное разрешение STM/STS даже при неидеальных окружающих условиях
- Высокая функциональность
- Простая и быстрая замена образца
Характеристики:
Окружающая температура | 27-127 °С |
Рабочее давление | От 10-6 мбар до 1 бар |
Размер образца | До 10мм в диаметре или квадратный образец размером до 7х7 мм |
Позиционирование | Грубое позиционирование в области 5 мм |
Диапазон сканирования | 1.4 x 1.4 мкм² |
Шаг измерений (при Т=27°С) | 0.05 … 1.5 мкм, 75 нм при |
Размер прибора | Диаметр – 35мм, высота - 50мм |
Основные выпускаемые инструменты компании attocube:
Атомно-силовая микроскопия AFM
Сканирующая туннельная микроскопия STM
Конфокальная микроскопия CFM
Ближнепольная оптическая сканирующая микроскопия SNOM
Магнито-силовая микроскопия MFM
Сканирующая Холловская микроскопия SHPM
Выпускаемые продукты и компоненты:
- Нанопозиционеры
- Контроллеры
Дополнительная информация.
Избранные примеры применений разных типов микроскопии от attocube:
Измерение фотолюминесценции квантовых точек
Диссипация в оптомеханических резонаторах_МЕМС
Применения сканирующей холловской микроскопии
AFM_STM Измерения изображения вортексов в образце NbSe2
Измерение фототока в Графене
AFM_применения
AFM_характеризация резиста
AFM-STM измерения при 300 мК
CFM_Низкотемпературные Рамановские измерения на слоях Графена
Пространственное картирование углеродных нанотрубок
Спектроскопия квантовых точек
Запрос на интересующее оборудование Вы можете прислать нам по адресу: tech@cryosystems.ru или по факсу +7 (495) 663-3039 для отдела оборудования для микро- и наноэлектроники и мы вышлем Вам коммерческое предложение или предоставим дополнительную информацию в разумные сроки.